Développement des techniques de test des systèmes numériques

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Boumaaraf, Abdelaâli	-
dc.date.accessioned	2022-05-30T08:29:53Z	-
dc.date.available	2022-05-30T08:29:53Z	-
dc.date.issued	1996	-
dc.identifier.uri	https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542	-
dc.description	Bibliogr. -ill. -128 p.	fr_FR
dc.description.abstract	Dans ce travail un contrôleur PTDC °Programmable Test and Diagnostic Contromller) exploitant les mécanismes _Scan, Boundary Scan BS et BIST est développé pour le test et diagnostic des systèmes numériques modernes. Ce contrôleur PTDC de 60 instructions est conçu pour la prise en compte d'une grande variété d 'architecture Scan et particulièrement celle de IEEE BS 1149.1.	fr_FR
dc.language.iso	fr	fr_FR
dc.publisher	Univ. Ferhat Abbas Setif	fr_FR
dc.subject	Compression	fr_FR
dc.subject	Built -in-self test	fr_FR
dc.title	Développement des techniques de test des systèmes numériques	fr_FR
dc.type	Thesis	fr_FR
Appears in Collections:	Thèses de Magister

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32-620-300-1.pdf	Thèse de Magister	4,41 MB	Adobe PDF	View/Open

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