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dc.contributor.authorAguemmoume, Nour El Houda-
dc.date.accessioned2019-11-05T07:37:57Z-
dc.date.available2019-11-05T07:37:57Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.urihttp://di.univ-blida.dz:8080/jspui/handle/123456789/2047-
dc.description4.621.1.309 ; 75 p 30 cmfr_FR
dc.description.abstractDans ce travail nous sommes intéressés à l’étude par la simulation d’un dispositif semiconducteur de type diode a jonction p-n afin d’observer l’influence des anneaux de garde sur les performances de cette jonction. Cette dernière présente des caractéristiques importantes notamment sa tension de claquage, cette dernière sera grande lors de l’ajout d’un anneau de garde à cette jonction, d’où l’amélioration de la tension de claquage dépend des anneaux de garde. Nous avons également étudié les différents paramètres caractérisant la jonction p-n avec anneau de garde qui nous ont servi à préciser le nombre et le positionnement de ce derniefr_FR
dc.language.isofrfr_FR
dc.publisherUniv Blida1fr_FR
dc.subjectanneau de garde ; diode ; tension de claquage ; simulationfr_FR
dc.titleÉtude de l'influence des anneaux de garde sur les performances d’un dispositif semi-conducteur de type diode à jonction p-nfr_FR
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