Etude des défauts des monocristaux Langatates LGT élaborés par la méthode Czochralski

Abstract

Le Cristal LGT de la composition générale La 3 Ga 5,5 Ta 05 O 14 est l’un des matériaux piézoélectriques de la famille des cristaux LGS (langasite) a été élaboré par la technique de la croissance monocristalline Czochralski le long de la direct ion du tirage Z et sous l’at mosphère d’argon + O 2 (0,01%). Nous avons réalisé l’étude de l’origine des défauts présents dans le lingot LGT tiré qui se forment lors des étapes de la croissance. L’ident ificat ion de l’origine des défauts dans le cristal LGT obtenu de notre croissance et leurs cinétiques de création ont été étudiés par des mesures d’absorption optiques faisant apparaitre trois bandes d’absorption autour de 290nm, 360 nm, 475nm et de deux bandes d’émission autour de 426nm, 452nm pour la photoluminescence. L’ensemble des résultats obtenus montre que la qualité et la performance du cristal sont intimement liées à l’atmosphère de la croissance et à la finesse de la régulation thermique.