Résumé:
Ce travail porte sur l’élaboration et caractérisation des couches minces d’oxydes métalliques.
Bien que, les oxydes métalliques semi-conducteurs en couches minces, ont fait l’objet de très
nombreux travaux de recherches comme la détection de gaz, photocatalyse, photopile…
L’objectif de ce travail est l’élaboration des couches minces d’oxyde métallique (MOx) pur et
dopé par voie sol-gel dip-coating sur des substrats en verre et la caractérisation morphologiques
(MEB), structural (DRX) et optique des échantillons obtenus (FTIR /UV-ViS).
Mots clé : dip-coating, oxyde de nickel (NiO).