Résumé:
Notre travail s'agit de déposer, par évaporation thermique, de mince couches de composés
ioniques (CaF
, LiF, KBr,...) sur des supports autoportés d'aluminium (Al) de façon à pouvoir
mesurer simultanément les pertes d'énergies des ions légers énergétiques dans le support de
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Al tout seul et dans l'ensemble "support de Al+ dépôt du composé". De même que les dépôts
de composés, les supports d’Al seront préparés par évaporation thermique suivie d'une
procédure délicate de relèvement de films. Les cibles préparées seront, par la suite,
caractérisées en vue de déterminer leurs épaisseurs et leurs stœchiométrie atomiques. A cet
effet, les techniques d'analyse par faisceaux d'ions (IBA Analysis) sont principalement
sollicitées.