Résumé:
L’objet de ce travail est la caractérisation de couches minces d’oxyde de vanadium VO
2
à
l’aide de la
spectroscopie Raman. L’intérêt de ce matériau réside dans ses propriétés optiques
et électriques qui sont fonction de la température. En effet, en dessous de 68 °C il se comporte
comme un semi-conducteur transparent au rayonnement IR et au-dessus de cette température
il devient métallique et empêche la
transmission de ce rayonnement. Cette transition de phase
permet l’utilisation du VO
2
comme revêtement
pour des capteurs solaires thermiques avec
régulation de température. Il est donc bénéfique de faire des
recherches afin de déterminer les
paramètres d’élaboration des couches minces de VO
2
qui optimise la
variation de ses
propriétés. La spectroscopie Raman permet de caractériser les matériaux par l’étude de leurs
transitions vibrationnelles qui donne des informations sur les liaisons chimiques et les
symétries moléculaires. La technique consiste à irradier l’échantillon par un laser adéquat et
d’analyser le spectre diffusé afin de déduire ses propriétés et les relier aux paramètres de son
élaboration tel que l’épaisseur des couches minces.
