Résumé:
Le travail présenté dans cette mémoire est consacré à l'étude des propriétés structurales et spectroscopiques des couches minces de matériaux monophosphate d’yttrium de formulation YPO4 dopé par les ions :5%Eu34,1% Tb35,1%Tm3*en utilisant des techniques d'analyses comme la diffraction des rayons X(DRX), microscopiques électronique à balayage (MEB) et spectroscopie de photoluminescence (PL). Les résultats de diffractions des rayons X révèle que nous avons la cristallisation de nos échantillons dans la structure YPO4.La mesure de la photoluminescence des couches YPO4 dopé Eu** deux bandes d'émission asymétriques et centrées à environ de 586 nm et 610 nm. Le spectre d'émission de YPO4 dopé 1% Tb34 est constitué de quatre bandes d'émission ; la première de maximum à 481 nm, la deuxième à 538 nm, la troisième à 580 nm et la quatrième à 612 nm.