Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542
Titre: Devloppement des techniques de test des systemes numériques conception d'un processeur test
Auteur(s): Boumaaraf, Abdelaali
Mots-clés: Compression
Built -in-self test
Date de publication: 1996
Editeur: ferhat abbas setif
Résumé: Dans ce travail un controleur PTDC °Programmable Test and Diagnostic Contromller) exploitant les mécanismes _Scan, Boundary Scan BS et BIST est developpé pour le test et diagnostic des systemes numeriques modernes . ce controleur PTDC de 60 instructions est conçu pour la prise en compt d'une grande varitété d 'archtecture Scan et particuliérement celle de IEEE BS 1149.1
Description: Bibliogr.-ill.-138 p.
URI/URL: https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542
Collection(s) :thèse de magister

Fichier(s) constituant ce document :
Fichier Description TailleFormat 
32.620.300.1.pdfthése de magister4,41 MBAdobe PDFVoir/Ouvrir


Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.