Devloppement des techniques de test des systemes numériques conception d'un processeur test

Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542

Titre:	Devloppement des techniques de test des systemes numériques conception d'un processeur test
Auteur(s):	Boumaaraf, Abdelaali
Mots-clés:	Compression Built -in-self test
Date de publication:	1996
Editeur:	ferhat abbas setif
Résumé:	Dans ce travail un controleur PTDC °Programmable Test and Diagnostic Contromller) exploitant les mécanismes _Scan, Boundary Scan BS et BIST est developpé pour le test et diagnostic des systemes numeriques modernes . ce controleur PTDC de 60 instructions est conçu pour la prise en compt d'une grande varitété d 'archtecture Scan et particuliérement celle de IEEE BS 1149.1
Description:	Bibliogr.-ill.-138 p.
URI/URL:	https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542
Collection(s) :	thèse de magister

Fichier(s) constituant ce document :

Fichier	Description	Taille	Format
32.620.300.1.pdf	thése de magister	4,41 MB	Adobe PDF	Voir/Ouvrir

DSpace JSPUI