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https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542
Titre: | Devloppement des techniques de test des systemes numériques conception d'un processeur test |
Auteur(s): | Boumaaraf, Abdelaali |
Mots-clés: | Compression Built -in-self test |
Date de publication: | 1996 |
Editeur: | ferhat abbas setif |
Résumé: | Dans ce travail un controleur PTDC °Programmable Test and Diagnostic Contromller) exploitant les mécanismes _Scan, Boundary Scan BS et BIST est developpé pour le test et diagnostic des systemes numeriques modernes . ce controleur PTDC de 60 instructions est conçu pour la prise en compt d'une grande varitété d 'archtecture Scan et particuliérement celle de IEEE BS 1149.1 |
Description: | Bibliogr.-ill.-138 p. |
URI/URL: | https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/16542 |
Collection(s) : | thèse de magister |
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