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dc.contributor.author |
Esnouf, Claude |
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dc.date.accessioned |
2023-10-03T09:17:24Z |
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dc.date.available |
2023-10-03T09:17:24Z |
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dc.date.issued |
2011 |
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dc.identifier.uri |
https://di.univ-blida.dz/jspui/handle/123456789/25114 |
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dc.description |
2.620.171 ; 579 p |
fr_FR |
dc.language.iso |
fr |
fr_FR |
dc.publisher |
Lausanne |
fr_FR |
dc.subject |
Rayons X |
fr_FR |
dc.subject |
Microstructure (physique) |
fr_FR |
dc.subject |
Cristallographie |
fr_FR |
dc.title |
Caractérisation microstructurale des matériaux |
fr_FR |
dc.title.alternative |
analyse par les rayonnements X et électronique |
fr_FR |
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