Résumé:
Résumé : des couches minces ZnO , ZnO-Ag, ZnO-Mg et ZnO- Ag-Mg ont été
réalisées par évaporation thermique sous vide pour les applications dans le domaine
de l’optoélectronique .
Il a été trouvé que le ZnO se cristallise avec une structure hexagonale wurtzite après un
recuit à 400°C, tandis que l’Ag montre des pics pour les deux couches ZnO-Ag et ZnOAg-Mg
avec
une
direction
préférentielle
(111).
Cependant
à
noter
l’absence
des
pics
AgO,
Mg
et
MgO.
On
a
aussi
constaté
que
le
facteur
de
transmission
varie
dans
la
gamme
(74-88)%
dans
l'intervalle
(300-800
nm),
qui
correspond
au
domaine
visible.
Ainsi
qu’après
le
recuit
toutes
les
couches
prennent
un
comportement
électrique
(résistances)
des
semiconducteurs.
Mots clés : couches minces, ZnO, ZnO-Ag, ZnO-Mg, ZnO-Ag-Mg, évaporation
thermique, semi-conducteurs.