Afficher la notice abrégée
dc.contributor.author |
TOUHAMI, Mohamed Samy |
|
dc.contributor.author |
MAHARI, Ali Bey |
|
dc.date.accessioned |
2019-11-12T09:46:12Z |
|
dc.date.available |
2019-11-12T09:46:12Z |
|
dc.date.issued |
2018 |
|
dc.identifier.uri |
http://di.univ-blida.dz:8080/jspui/handle/123456789/2669 |
|
dc.description |
4.621.1.672 ;49 p
illustré ;30 cm |
fr_FR |
dc.description.abstract |
Résumé : des couches minces ZnO , ZnO-Ag, ZnO-Mg et ZnO- Ag-Mg ont été
réalisées par évaporation thermique sous vide pour les applications dans le domaine
de l’optoélectronique .
Il a été trouvé que le ZnO se cristallise avec une structure hexagonale wurtzite après un
recuit à 400°C, tandis que l’Ag montre des pics pour les deux couches ZnO-Ag et ZnOAg-Mg
avec
une
direction
préférentielle
(111).
Cependant
à
noter
l’absence
des
pics
AgO,
Mg
et
MgO.
On
a
aussi
constaté
que
le
facteur
de
transmission
varie
dans
la
gamme
(74-88)%
dans
l'intervalle
(300-800
nm),
qui
correspond
au
domaine
visible.
Ainsi
qu’après
le
recuit
toutes
les
couches
prennent
un
comportement
électrique
(résistances)
des
semiconducteurs.
Mots clés : couches minces, ZnO, ZnO-Ag, ZnO-Mg, ZnO-Ag-Mg, évaporation
thermique, semi-conducteurs. |
fr_FR |
dc.language.iso |
fr |
fr_FR |
dc.publisher |
U.Blida1 |
fr_FR |
dc.subject |
couches minces, ZnO, ZnO-Ag, ZnO-Mg, ZnO-Ag-Mg, |
fr_FR |
dc.title |
Elaboration et caractérisation des couches minces à base d’oxyde de zinc (ZnO) pour des applications en optoélectronique |
fr_FR |
Fichier(s) constituant ce document
Ce document figure dans la(les) collection(s) suivante(s)
Afficher la notice abrégée